기업조회

본문 바로가기 주메뉴 바로가기

장비 및 시설 기본정보

파티클 사이즈 및 제파 포텐션 분석기

장비 개요

기관명, 장비번호, 제작사, 모델명, 장비사양, 취득일자, 취득금액 순으로 구성된 표입니다.
기관명 ZEUS
장비번호
제작사 Otsuka Electronics
모델명 ELS-Z2
장비사양
취득일자 2010-03-09
취득금액

보유기관 및 이용정보

보유기관명, 보유기관코드, 활용범위, 활용상태, 표준코드, 표준분류명, 시설장비 설명, 장비이미지코드, 장비위치주소, NFEC 등록번호, 예약방법, 카타로그 URL, 메뉴얼 URL, 원문 URL, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
보유기관명 광주과학기술원
보유기관코드
활용범위
활용상태
표준코드 B701
표준분류명
시설장비 설명 특징 나노 소자의 용액내의 분산 안정성과 나노크기의 측정과 필름이나 디바이스 막 형태 등의 고체 표면의 하전의 변화 특성 분석을 목표로 한다. 샘플의 농도는 저농도 뿐 아니라 40 % 까지 고농도에서 또한 측정 분석이 가능하다. 미량volume의 나노바이오와 고가의 나노 분체용액의 경우도 측정을 할 수 있어야 하며 무엇보다 용액 상이 아닌 고체상태 샘플의 표면 전하 분석이 가능하다. 또한 pH System 도입을 통하여 용액의 pH에 따른 변화와 필름(고체) 상에서의 pH 변화를 볼 수 있으며 pipetting circulation 기능을 통한 첨가제 효과를 측정할 수 있다. 또한 PBS Buffer(생리식염수)와 같이 고염농도 조건에서의 sample의 측정이 가능하다.
장비이미지코드 http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201110/20111004140137.jpg
장비위치주소 광주과학기술원 신소재공학동
NFEC 등록번호 NFEC-2010-05-086325
예약방법
카타로그 URL
메뉴얼 URL
원문 URL http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0017710
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, 주제어 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
주제어 (키워드)