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장비 및 시설 기본정보
주사전자현미경 및 에너지 분산 검출기
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Hitachi 및 Kevex |
| 모델명 | S-2700, Delta Plus |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 1993-01-01 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 경기지방중소기업청 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 진공중에서 시료의 최소점에 입사전자를 가하면 시료의 표면으로부터 발생되는 2차 전자로서 미세구조에 대한 영상을 형성하고 특성 X선을 검출하여 물질의 성분 원소에 대한 정성 및 정량 분석하는 기기1. 2차 전자 발생원(텅스텐 필라멘트) 2. 시료대 3. 진공계 4. Data 처리계금속 및 비철금속 세라믹 고분자 재료 안료 염료 전자 재료 등 |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/200702/.thumb/200702065526.jpg |
| 장비위치주소 | 기술지원과 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2000-05-027266 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0004899 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |