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장비 및 시설 기본정보
고분해능 2차원 X-선 회절분석기
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Bruker |
| 모델명 | D8 DISCOVER |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2016-10-31 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한국기초과학지원연구원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | B520 |
| 표준분류명 | 시험 |
| 시설장비 설명 | X-선과 물질과의 산란, 회절, 반사, 흡수등의 상호작용으로부터 다양한 물질상태에 대한 결정학적 정보 및 물질구조 특성 분석 장비 - 단결정 및 화합물 반도체 박막 구조 특성 분석 - 2차원 검출기를 활용한 고속 및 3차원 구조 특성 분석 평가 - 물질 결정상 정성·정량 - 잔류응력 및 집합조직 분석 - 미소영역 결정결함 분석 - SAXS/GI-SAXS 분석 |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201708/20170824151237143.JPG |
| 장비위치주소 | 한국기초과학지원연구원대구센터 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2016-10-212584 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-202007315419 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |