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인쇄소자 특성측정장비 mainframe

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보유기관명	한국기계연구원
보유기관코드
활용범위
활용상태
표준코드	A313
표준분류명	시험
시설장비 설명	소자 전기적 특성을 측정하기 위한 장비의 mainframe 으로 구성은 probe tip tip holder micro positioner 시료를 고정할 수 있는 진공 장치 probe tip을 시료에 접촉할 때 사용하는 microscope 이를 화면에 보여주는 CCD 카메라 영상표시장치 base frame 진동을 막아 주는 방진 테이블 빛을 차단하는 암실 스테이지를 움직일 수 있는 장치 ccd 카메라/ microscope를 움직일 수 있는 장치 등으로 구성되어 있다. 소자의 특성을 측정하는 장치와 연동해야 사용이 가능하며 단독으로는 사용은 불가능함. 주로 semiconductor analyzer와 연동을 하여 사용을 하고 측정 소자로는 박막 트랜지스터 다이오드 등의 특성을 측정할 수 있다.
장비이미지코드	http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201102/20110208142903.jpg
장비위치주소	한국기계연구원 14동
NFEC 등록번호	NFEC-2011-02-139657
예약방법
카타로그 URL
메뉴얼 URL
원문 URL	http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0025761
첨부파일

기업조회