| 보유기관명 |
한국기초과학지원연구원 |
| 보유기관코드 |
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| 활용범위 |
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| 활용상태 |
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| 표준코드 |
B520 |
| 표준분류명 |
시험 |
| 시설장비 설명 |
특징 직물질에 X선을 입사시키면 각각의 원자로부터의 산란파가 서로 간섭(干涉) 현상을 일으켜 특정한 방향으로만 회절파(X선 회절)가 진행한다. 이것이 X선 회절 현상이다. X선회절의 강도와 진행 방향은 물질을 구성하는 원자의 종류와 배열 상태에 따라 달라진다. 그러한 특징을 이용하여 X선 회절을 조사함으로써 물질의 미세한 구조를 알 수 있다. |
| 장비이미지코드 |
http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201712/20160922172252_200702071830 NFEC-2003-11-035520.jpg |
| 장비위치주소 |
한국기초과학지원연구원 광주센터 |
| NFEC 등록번호 |
NFEC-2003-11-035520 |
| 예약방법 |
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| 카타로그 URL |
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| 메뉴얼 URL |
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| 원문 URL |
http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-KBSI_EMS-00104 |
| 첨부파일 |
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