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장비 및 시설 기본정보
주사전자현미경
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Jeol |
| 모델명 | JSM-IT300 |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2015-09-30 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 재료연구소 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A206 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 주사전자현미경은 시료의 표면 형상을 관찰하는 분석 장치로서, 전자빔과 시편간의 반응에 의해 발생하는 이차전자를 포집하여 표면의 굴곡에 따른 이차전자 발생 정도를 감지하여 표면 형상을 이미징할 수 있음. |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201510/2015100511371377.JPG |
| 장비위치주소 | 재료연구소 연구4동 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2015-10-205226 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0058754 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |