| 시설장비 설명 |
X-ray fluorescence is the emission of characteristic secondary X-rays from a material that has been excited by bombarding with high-energy X-rays or gamma rays. XRF is able to analyze quality and quantity of various elements of solid materials such as geological specimens slugs soils and ceramics very quickly as well as simultaneously. Qualitative analysis of elements ranging from 4Be to 92U is made and quantitative analysis of 10 major elements in the case of geological sample is usually made in concentration of 100 ppm ~ 100%. With the advantage of non-destructive analysis precision and accuracy by repetitive measurements is certified. Moreover sample preparation is simple. 고 에너지 X선 또는 감마 선에 의해 들뜬 물질에서 2차 X선 (형광)이 방출되는데 이것이 X선 형광이다. 본 기기센터에서 보유하고 있는 XRF는 지질시료 슬러지 토양 세라믹 등과 같은 고체 시료에 대하여 매우 신속하게 (보통 60 ~ 100초) 원소를 분석할 수 있을 뿐만 아니라 여러 가지 원소를 동시에 분석할 수 있다. 현재 4Be에서 92U까지 정성분석이 가능하며 지질 시료의 경우 10가지 주원소 (SiO2 Al2O3 Fe2O3 Na2O K2O TiO2 MnO P2S5 MgO)에 대하여 수십 ppm에서 100% 농도 범위 내에 정량분석을 수행할 수 있다. XRF는 비파괴 분석이라는 장점으로 반복 측정을 통한 재현성과 정밀도를 검증할 수 있다. 더욱이 시료 전처리도 간단하다. |
