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장비 및 시설 기본정보
주사탐침 원자힘 현미경
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Nt-mdt |
| 모델명 | NTEGRA Solaris |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2009-11-11 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한국과학기술원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A208 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 특징 Bio Material 및 Nano Tube의 표면 형태 측정 및 액중 전기화학 반응에 따른 전기적 특성 변화 측정용구성및성능 0.1nm이하의 극고공간 분해능으로 물질 표면 및 박막단면의 구조를 측정할 수 있는 첨단 장치. 대기 중 및 액중에서 측정 가능하며 아울러 도체 및 부도체 시료에 대한 측정도 가능하다. 또한 물질 표면 및 박막의 구조를 3차원적이고 비파괴적인 방법으로 측정할 수 잇을 뿐만 아니라 자성재료 표면 미소자구 분포 및 시료표면의 전뤼 전하량의 분포에 대한 영상화도 가능하며 기능성 재료 및 신재료 물성분석과 개발에 활용이 가능하다.활용분야 나노측정실험 다양한 방식의 탐침(probe)으로 시료의 표면을 스캔하여 원자 지름의 수십 분의 1인 0.01나노미터(nm) 수준까지 측정할 수 있는 제3세대 현미경. 광학 현미경이 최고 수천 배 전자 현미경이 수십만 배의 배율인 데 비해 원자 현미경은 수천만 배급이며 3차원의 이미지를 얻을 수 있을 뿐만 아니라 표면의 점탄성 경도 등의 특성을 측정할 수 있고 탐침을 이용해 시료를 직접 조작하여 나노미터의 물체를 제조하는 등 나노 산업의 핵심 장치이다. 원자 현미경은 양자 역학적 터널링 효과를 이용한 STM (Scanning Tunneling Microscope)과 원자 간에 작용하는 힘을 이용한 AFM(Atomic Force Microscope)으로 구분되며 AFM은 다시 접촉식과 비접촉식으로 구분된다. |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201110/.thumb/20111026131501.jpg |
| 장비위치주소 | 대전 유성구 구성동 한국과학기술원 궁리실험관 한국과학기술원 궁리실험관 1층 101호 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2010-09-083770 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0018526 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |