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장비 및 시설 기본정보
X선 광전자분석기
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Thermo Scientific |
| 모델명 | Sigma Probe |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2015-04-24 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한국생산기술연구원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | B521 |
| 표준분류명 | 시험 |
| 시설장비 설명 | (1) 시료 처리실: 표준물질의 증착, 오염된 고체표면의 컷팅, 온도제어, 가스처리 등 (2) 측정실 : 시료를 여기시키는 전원, 시료로부터 방출되는 광전자의 에너지를 분별하는 에너지 분석기, 전자검출기로 구성 본 장치는 X선을 시료에 조사 시 광전자가 방출되는 현상을 이용하여 광전자 운동에너지를 분석함으로써 금속, 촉매, 반도체소자재료, 세라믹스, 박막, 고분자피막 등시료표면층(Surface layer, 약 50-100micron)에 분포되어 있는 원소를 정성 및 정량분석함. |
| 장비이미지코드 | https://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201505/2015051193953964.JPG |
| 장비위치주소 | 한국생산기술연구원 연구동 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2015-05-202132 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | https://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-kitech-00796 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |