| 시설장비 설명 |
켈빈 프로브 현미경 (Kelvin Probe Microscope KPM)은 원자 힘 현미경 (Atomic Force microscope AFM)의 noncontact에서 응용되어 1991 년에 발명되었습니다. 켈빈 프로브 현미경 (Kelvin Probe Microscope KPM)을 통해 표면의 일함수 (Work Function WF)을 나노 스케일에서 2차원적으로 맵핑할 수 있습니다. 일함수는 촉매 활성(catalytic activity) 표면구조의 재건(reconstruction of surfaces) 반도체 물질의 도핑 및 밴드굽힘(band-bending)현상 전하 잡힘(charge trapping) 등을 포함하는 여러 표면 현상(surface phenomena)과 관련됩니다. 켈빈 프로브 현미경 (Kelvin Probe Microscope KPM)으로 측정한 일함수는 고체 표면의 성분 조성(composition) 국부적인 구조의 전자 상태(electronic state of the local structures)에 대한 정보를 제공할 수 있습니다.
켈빈 프로브 현미경 (Kelvin Probe Microscope KPM)은 프로브 팁(probe tip)과 표면 사이에 전위차(potential offset)를 스캐닝하는 방법입니다. 원자 힘 현미경 (Atomic Force microscope AFM)의 캔틸레버(cantilever)는 표면과 축전기(capacitor)를 형성 기준 전극(reference electrode)입니다. |
