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장비 및 시설 기본정보
켈빈프로브
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Kp Technology |
| 모델명 | Scanning Kelvin Probe 5050 |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2010-05-27 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 경희대학교 산학협력단 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | C514 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 특징 금속이나 기타 전도성 물질면의 일함수(Work function)값을 측정할 수 있는 최적의 측정장치로 일함수(Work function : 분자내 최외각 괘도의 전자를 이탈시키는데 필요한 힘)값을 통하여 물질의 초기 부식이나 균질성 분석 전자방출 특성을 이용한 OLED연구 및 Solar Cell 연구 등에 사용된다.구성및성능 - Kelvin Probe Head Unit with Integral Tip Amplifier and 2mm Tip Additional Tips (50 micro) - Optical Grade Creed board - Optical Kelvin Probe Mount with 25.4mm Manual Translator - Sample Mount with Aluminum Sample - 3-Axis Motorized Translation Stage - Data Acquisition System (Pre-installed on PC) - Scanning Kelvin Probe Software (on CD and pre- installed on PC) - NI-DAQ Software (on CD and pre- installed on PC) - Faraday Screen - Spare Tip Amplifier - Power Supply Unit - Associated Software Cable and Manuals - Digital Control Unit (SKP Version) - Dell PC with 17" Monitor - Optical Camera Arrangement with 7" Monitor and Optical Mounts - Digital Oscilloscope활용분야 정전기 특성을 이용하여 전도성 물질의 일함수(work function)를 측정하기 위한 장비이다. 물질의 초기 부식이나 균질성 분석 전자방출 특성을 이용한 OLED연구 및 Solar Cell 연구 등에 사용된다. |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201309/.thumb/20130910103642171.jpg |
| 장비위치주소 | 경기도 용인시 기흥구 덕영대로 1732 (서천동) 멀티미디어관 B1 경희대학교 산학협력단 멀티미디어관 지하1층 110 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2010-12-086130 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0018241 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |