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파장분산형 X선 형광 분석기

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보유기관명	한국생산기술연구원
보유기관코드
활용범위
활용상태
표준코드	B522
표준분류명	시험
시설장비 설명	- X선 형광분석기는 분체, 고체, 액체등 다양한 시료에 X선을 조사하여 시료에서 방출되는 형광 X선을 측정해 시료가 가지고 있는 원소 성분의 정성 및 정량 분석을 할 수 있는 장비 - 각각 원소로부터 발생되는 특유의 형광 엑스선의 파장을 이용 고체, 액체 및 Power 시료의 정량 및 정성 분석에 사용 되며, 4Be ~ 92U까지의 원소 분석이 가능하며 분석 영역은 ppm ~ 100% 으로 별도의 시료 전처리 없이 비파괴 분석이 가능 - 시료에 X선을 조사하게 되면 시료는 시료에 포함하고 있는 원소의 양이나 종류에 따라 다른 특성의 형광 X선을 방출하게 된다. 발생된 형광 X선은 콜리메이터, 크리스탈, 검출기를 통해 그 세기와 양을 측정하게 되며 이때 측정된 세기를 통해 원소의 종류를 파악할 수 있으며 측정된 양을 통해 원소의 정량 정보를 파악할 수 있음
장비이미지코드	http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201507/2015072293413439.JPG
장비위치주소	한국생산기술연구원 솔라시티센터
NFEC 등록번호	NFEC-2015-07-203932
예약방법
카타로그 URL
메뉴얼 URL
원문 URL	http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-kitech-00822
첨부파일

기업조회