| 보유기관명 |
(주)아이에이 |
| 보유기관코드 |
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| 활용범위 |
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| 활용상태 |
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| 표준코드 |
C514 |
| 표준분류명 |
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| 시설장비 설명 |
Chip의 전기적 특성을 측정하며 Transistordioderesistorcapacitorwafer상태의 IC의 전기적 특성을 정량적으로 측정할수 있는 장비로서 보다 자세하게는 Probe Station에 안착된 wafer기판을 자동으로 이동하면서 Probe station의 needle을 통해 감지되는 Wafer IC PAD의 전기적 신호값을 읽어들여 wafer die별로 반도체 소자의 특성을 측정할 수 있는 장비이다.
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| 장비이미지코드 |
http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201102/.thumb/20110216170332.JPG |
| 장비위치주소 |
서울 송파구 문정1동 54-7 (주)씨앤에스 테크놀로지스 |
| NFEC 등록번호 |
NFEC-2011-02-142181 |
| 예약방법 |
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| 카타로그 URL |
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| 메뉴얼 URL |
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| 원문 URL |
http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0027332 |
| 첨부파일 |
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