낙추 충격 시험기
기관명 | ZEUS |
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장비번호 | |
제작사 | 대경테크 |
모델명 | DTI-610 |
장비사양 | |
취득일자 | 2011-01-28 |
취득금액 |
보유기관명 | RFID/USN센터 |
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보유기관코드 | |
활용범위 | |
활용상태 | |
표준코드 | C724 |
표준분류명 | |
시설장비 설명 | 낙추 충격시험기는 RFID Tag(라벨 메탈 등) Chip을 직접 충격을 가하는 신뢰성 내구성 시험기 여권 Chip을 직접 충격을 가하는 신뢰성 내구성 시험기 IEC 6603-2 ISO 7765-2 등 규격에 준하는 신뢰성 내 충격 시험 RFID 분야 이외의 종이 필름 및 플라스틱 등 타 산업군의 제품들을 천공시험 및 직접 충격을 가하여 도막과 기재를 빠르게 손상 시키는 방법과 이런 손상 효과를 평가하는 시험기- Falling Heght: Min 005m Max 1.0m - Falling Weght: Max 5.0 Kg - 로드셀: 50 Kgf 200 Kgf- RFID Tag 여권 종이 필름 및 경질플라스틱 등 |
장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201105/.thumb/20110520113103.JPG |
장비위치주소 | 인천 연수구 송도동 11-13 정보통신산업진흥원 시험동 1층 L104 |
NFEC 등록번호 | NFEC-2011-05-145475 |
예약방법 | |
카타로그 URL | |
메뉴얼 URL | |
원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0029230 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
주제어 (키워드) |