이차원면적검출 X-선 회절분석기
기관명 | ZEUS |
---|---|
장비번호 | |
제작사 | Bruker |
모델명 | D8 Discover/GADDs |
장비사양 | |
취득일자 | 2003-12-30 |
취득금액 |
보유기관명 | 경상대학교 |
---|---|
보유기관코드 | |
활용범위 | |
활용상태 | |
표준코드 | B520 |
표준분류명 | |
시설장비 설명 | X-선은 하나의 파장이므로 어떤 물질에 충돌하거나 할때 회절이 생긴다. 회절은 모든 방향으로 일어나지만 간섭에 의하여 일정한 패턴을 갖게 되며 이것을 분석할 때 물질의 특성과 성질 등을 알아낼 수 있다. 간섭은 보강과 상쇄가 있는데 만일 파장의 위상이 동일한 경우 즉 브래그법칙(N=2dsin)을 만족할 때 보강간섭을 일으켜 더욱 큰 파장이 되며 위상이 반대일 경우 상쇄간섭을 일으켜 파장이 사라지게 된다. 이러한 간섭현상은 물질의 입자의 배열과 결정 등에 의하여 변화되므로 물질의 특성을 알아낼 수 있는 좋은 도구가 된다. 따라서 X-선 회절분석기는 고전압으로 하전된 전자가 금속 양극에 충돌할 때 발생하는 특성X-선을 결정질의 시료에 조사하여 이때 시료와 반응하여 발생되는 회절빔을 해석하여 결정구조 및 내부구조의 변형정도를 해석하는 장비로 액체를 제외한 모든 결정질 시료의 구조를 해석할 수 있다.1. High-Reolution X-ray Diffreactiometer 1)θ-2θ Base Goniometer system: X-선 회정 각도를 측정하는 장치 2)X-ray Generator: 튜브에 고전압을 걸기 위한 발전기 3)Set of Pinhole collimator for Texture: 집합조직 분석 시 X선 빔의 모양을 조절하기 위한 부품 4)Divergence slit assembly: 튜브에서 나온 빔을 샘플에 조사되도록 조절하는 슬릿 5)X-ray diffraction tube: 음극에서 나오는 연전자를 타겟에 충돌시켜 X선을 발 생시키는 부품 6)scintillation counter: 샘플에 조사되어 회절된 X선을 검출하는 장치 2. Centric Eulerian Cradle Stage: 집합조직 분석을 위한 4축 회전장치 3. Attachment for 9 position sample magazine for Centric Cradle: 여러 개의 샘플을 한 번에 분석할 수 있도록 하는 부속 4. Software Packages 1) Windows 2000: 컴퓨터 구동 및 분석 소프트웨어 실행을 위한 OS(Operating System) 2)Diffractometer Data Acquisition Softwaer: X선 회절분석기로부터 데이터를 수직하기 위한 소프트웨어 3)Data Evaluation Software: X선 회절분석 데이터를 분석(상분율 미세구조 등) 하기 위한 소프트웨어 4)Texture Software Package: X선 회절 집합조직을 분석하기 위한 소프트웨어 5. Data Orocessing system X선 회절분석기를 구동하고 데이터 수집 및 분석용 소프트웨어 구동을 위한 컴 퓨터 6. External Water Cooling System X선 회절분석기의 가열을 방지하기 위한 냉각 시스템Nanopowder 분석 고유뮬 및 고서화 분석 제약회사의 신물질 개발 및 연구 철강재료의 집합조직 잔류응력 및 정성분석 |
장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201106/.thumb/20110603152538.jpg |
장비위치주소 | 경남 진주시 진주대로 501 경상대학교 공동실험실습관 27동 2층 227호 |
NFEC 등록번호 | NFEC-2011-06-145650 |
예약방법 | |
카타로그 URL | |
메뉴얼 URL | |
원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0029272 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
---|---|
ICT 기술분류 | |
주제어 (키워드) |