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장비 및 시설 기본정보
주사전자현미경
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Hitachi |
| 모델명 | SU-1510 |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2010-06-01 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 연세대학교 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A206 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 특징 주사전자현미경은 일반적인 현미경인 열전자방출방식의 Gun과 달리 electron source인 filament metal 표면에 강한 electric filed를 걸어주어 전자를 방출시키는 gun type의 현미경이다.구성및성능 Magnification : 5x to 300000x Specimen size : Max.152 mm dia. Magnification : 5x to 300000x Specimen size : Max.152 mm dia.활용분야 시료의 표면 관찰 및 크기 관찰 아주 미세한 Gun Electron Source (원자원)으로부터 발생되는 일차 전자가 분석하고자 하는 시료에 조사되면서 이때 발생되는 다양한 전자 (Secondary Electron Backscattered Electron Cathode Luminescence etc)를 이용하여 분석하고자 하는 시료 표면의 미세한 구조를 확대하고 관찰하는 기기로서 일반 광학현미경에 비해 분해능과 집점심도가 매우 우수하여 시료의 표면관찰은 물론 조성 등을 관찰함으로서 시료의 특성 표면구조 및 결합을 관찰하는데 사용되는 분석기기이다. 또한 원소분석을 겸할 수 있기때문에 시료에서 나오는 특정 X-선 에너지를 받는 검출기(Detector)를 장착하게 되면 그 부분의 정성 정량 분석을 가능하게 한다. |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201509/.thumb/20150911144145381.jpg |
| 장비위치주소 | 서울특별시 서대문구 연세로 50 (신촌동) 이과대학 연구소 과학관 4층 432B호 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2010-09-084628 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0018443 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |