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주사전자현미경(SEM)

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보유기관명	경상대학교
보유기관코드
활용범위
활용상태
표준코드	A206
표준분류명
시설장비 설명	가속된 전자 beam을 시료 위에 주사시켜 시료로부터 튀어나온 2차 전자, 후방산란전자, 엑스선을 이용하여 scintillater에 검출된 2차 전자는 광전증배관으로 운반되어 여기서 신호가 증폭 된 후 다시 video amplifier에서 영상 신호 증폭을 거친 후 CRT에서 시료표면의 미세한 엑스선을 이용하여 마이크론 부분에 대한 성분 분석을 하게 된다.● Accelerating Voltage : 0.5～30㎸,Resolution : HV:3.0nm(30㎸),20nm(1kV), LV:4.0nm(30kV), ● Magnification : 8X～300,000X, ● Gun : W filament금속, 무기재료, 반도체, 섬유, 고분자. 천연재료, 생물체시료 등의 표면 미세 구조 및 조직의 파단면 관찰, 미세 집합조직 측정 회절기를 이용한 집합조직 측정 및 결정립계 특성 분석, 에너지 분산형 X선 분석기를 이용한 정성 및 정량분석
장비이미지코드	http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201412/.thumb/2014120914059273.jpg
장비위치주소	경남 진주시 가좌동 경상대학교 900번지 경상대학교 공동실험실습관 2층 216
NFEC 등록번호	NFEC-2014-12-194637
예약방법
카타로그 URL
메뉴얼 URL
원문 URL	http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0047413
첨부파일

기업조회