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장비 및 시설 기본정보
원자력현미경
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Veeco |
| 모델명 | MULTIMODE |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2007-01-01 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한국과학기술원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A208 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | AFM은 물질 표면의 특성을 원자단위까지 측정할 수 있는 현미경이다. 캔틸레버(Cantilever)라고 불리는 작은 막대와 그 끝에 달려있는 피라미드 모양의 바늘을 사용한다. 이 탐침을 시료 표면에 접근 시키면 탐침 끝의 원자와 시료표면의 원자사이에 서로 간격에 따라 인력이나 척력이 작용하여 캔틸레버가 위아래로 휘게 된다. 이 휘어짐을 측정하기 위해 켄틸레버 위로 레이저 광선을 비추고 반사된 광선의 각도를 포토 다이오드를 사용하여 측정한다. 도체나 부도체 모두를 높은 분해능으로 관찰할 수 있다는 장점이 있다.1. 이미지 크기 및 해상도 (1) 128*128 ~ 512*512 pixels (2) 16 bit resolution on all three axes (3) X- , Y-axis: 200 μm, Z-axis: 10 μm 2. Scanning techniques with the Multimode SPM - Contact AFM, TappingMode™ AFM, Phase Imaging, Non-contact AFM, Magnetic Force Microscope (MFM), Electric Force Microscope (EFM), Surface Potential Microscopy, LiftMode™, Force Modulation, Lateral Force Microscopy (LFM), Scanning Tunneling Microscopy (STM), Electrochemical Microscopy (ECSTM and ECAFM) 3. 하드웨어 구성 - SPM, controller, computer (with two display monitor) - SPM: SPM head, Photodiode adjustment knob, Laser adjustment knobs, XY head translator, Scanner, Retaining springs, Coarse adjustment screw, Motor control switch, Mode selection switch Base - Tip holder and SPM tip 4. 소프트웨어 - Nanoscope™AFM은 시료의 전기적인 특성과 무관하므로 도체, 반도체뿐만 아니라 생체 물질이나 고분자 표면에 대한 분석이 가능하여 재료과학분야에서 연구되는 거의 모든 종류의 시료 표면 분석에 사용된다. 나노미터 수준의 해상도를 가지고 있어 실리콘 전극을 비롯한 기타 고체 전극 위에 Nanoscale로 제작된 패턴의 관찰이나 중합된 고분자 패턴의 모양 관찰, 아밀로이드 단백질 분자의 morphology 관찰 등에 사용될 수 있다. |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201501/.thumb/20150108165243898.jpg |
| 장비위치주소 | 대전 유성구 구성동 한국과학기술원 W1-1 신소재공학과 한국과학기술원 응용공학동(W1-1) 3층 3321 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2015-01-195532 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0048051 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |