면저항 측정장비
기관명 | ZEUS |
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장비번호 | |
제작사 | 냅슨코리아 |
모델명 | RT-80/RG-80 |
장비사양 | |
취득일자 | 2006-08-30 |
취득금액 |
보유기관명 | 한양대학교 ERICA캠퍼스 |
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보유기관코드 | |
활용범위 | |
활용상태 | |
표준코드 | D102 |
표준분류명 | |
시설장비 설명 | 4단자 측정기 ․Current Source - 10nA to 100mA - DVM 10mV to 1000mV - Accuracy: ± 0.15~ 1% ․자기진단용 standard resistor - 1m ohm ~ 100M ohm - Accuracy: ± 0.25~ 1%Recipe setting measurements and data processing with easy PC operation - Test patterns: user programmable (Shape: Round / Square) - Tester self-test function wide measuring range - 2 types measuring tester (S version: Standard type H version: High range resistivity measurement type) - Mapping software: Up to 1225 points (Option) - Thickness / Edge / Temperature correction for resistivity본 장비는 형성된 박막의 표면저항을 정밀하게 측정하여 박막의 전기적 물성(전기 전도성 저항율)을 정확히 측정하여 박막의 품질관리에 필수적으로 사용되는 장비이다. 4개의 탈침을 이용하여 면저항 측정 박막의 전도성및 저항율 측정 |
장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201308/.thumb/2013082213520260.jpg |
장비위치주소 | 경기 안산시 상록구 사3동 한양대학교 1271번지 한양대학교 안산캠퍼스 학연산클러스터지원센터 지하1층 106-2 |
NFEC 등록번호 | NFEC-2011-01-134927 |
예약방법 | |
카타로그 URL | |
메뉴얼 URL | |
원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0022623 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
주제어 (키워드) |