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장비 및 시설 기본정보

극초저온 초점 이온빔 주사전자현미경

장비 개요

기관명, 장비번호, 제작사, 모델명, 장비사양, 취득일자, 취득금액 순으로 구성된 표입니다.
기관명 ZEUS
장비번호
제작사 FEI
모델명 모델명 없음
장비사양
취득일자 2015-07-07
취득금액

보유기관 및 이용정보

보유기관명, 보유기관코드, 활용범위, 활용상태, 표준코드, 표준분류명, 시설장비 설명, 장비이미지코드, 장비위치주소, NFEC 등록번호, 예약방법, 카타로그 URL, 메뉴얼 URL, 원문 URL, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
보유기관명 한국과학기술연구원
보유기관코드
활용범위
활용상태
표준코드 A200
표준분류명
시설장비 설명 본 장비는 Cryo System으로 극초저온(-175℃)을 이용하여 빔에 의한 손상이 심한 BIO시료 및 고분자 재료의 단면 분석과 Pt, Carbon deposition을 이용하여 더욱 다양한 복합재의 TEM 시편제작에 유리하다. 또한 보다 더욱 강력해진 CBS Detector를 이용하여 Z contrast 차에 의한 시편간의 contrast 차이를 더욱 뚜렷하게 나타내어 다양한 복합재의 구분이 가능하므로 고분자 복합재 및 BIO시편 제작 및 미세구조 분석장비임.
장비이미지코드 http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201511/201511119026488.jpg
장비위치주소 한국과학기술연구원 전북분원 한국과학기술연구원 전북분원
NFEC 등록번호 NFEC-2015-12-206660
예약방법
카타로그 URL
메뉴얼 URL
원문 URL http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0059435
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, 주제어 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
주제어 (키워드)