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장비 및 시설 기본정보
주사탐침현미경
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Omicron Nano Technology |
| 모델명 | VT AFM XA |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2013-07-24 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한국과학기술연구원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A208 |
| 표준분류명 | 시험 |
| 시설장비 설명 | 본장비는 나노물질을 원자수준에서 모양 관찰, 물리적 특성 분석, 전자기적 특성평가가 가능한 초정밀 분석 장비입니다. Scanning probe microscopy 의 대표적인 scanning tunneling microscopy, atomic force microscopy 두 가지가 모두 1 x 10^-10mbar 부근의 ultrahigh vacuum 에서 구현이 가능합니다. |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201404/20140430163354997.jpg |
| 장비위치주소 | 한국과학기술연구원 전북분원 연구동 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2014-05-187181 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0041763 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |