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장비 및 시설 기본정보
기체환경제어 원자현미경
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Bruker |
| 모델명 | 모델명 없음 |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2016-02-22 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 기초과학연구원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A206 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 샘플표면을 Nano(1nm~수십nm) 지름을 갖고 있는 Probe을 사용하여 Tip과 샘플을 피드백하여 나노스케일로 표면 분석을 하는 장비로, Electrochemistry AFM & STM의 측정이 Atomic Resolution에서 측정이 가능 하며, EFM, MFM, KPFM등의 전기적, 물리적 특성을 측정이 가능합니다. 새로 개발된 PeakForce Tapping 기반의 ScanAsyst 측정모드를 통하여 기존의 SPM 보다 작은 힘인 50pN(기존 AFM의 1/10의 힘)로 샘플표면을 직접적으로 측정하고 이때 얻어지는 F-D curve기반 데이타로 고해상도 이미징이 가능합니다. 또한 기존에 없는 스캔 최적화를 통해 자동으로 측정이 가능하고, 기존 일반 장비에서는 접근하지 못한 데이터 측정을 가능하게 하여 나노스케일의 표면연구에 반드시 필요한 장비입니다. 위와 같은 기능으로 지금까지 일반적인 AFM으로 측정이 어려웠던 전기전자, 고분자, 반도체, 박막, 바이오등 다양한 기초 소재 측정을 통하여 유용하고 정확한 데이터를 얻을 수 있습니다. 특히 기존의 AFM으로는 측정이 불가능한 기체환경조절 환경내에서 다양한 AFM의 동작이 가능하여 일반 환경에서는 연구 하기 불가능한 환경에 영향을 받는 시료의 정밀한 측정이 가능한 연구 설비입니다. 또한 self-image optimization을 통해 오퍼레이터의 스킬과 무관하게 고해상도의 이미지를 자동으로 측정할수 있게 하므로 재현성과 함께 사용법이 쉽고 구축 후 공동활용이 가능한 장비입니다. |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201603/20160316144253991.JPG |
| 장비위치주소 | 한국과학기술원 문지캠퍼스 창조관 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2016-03-208511 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0060708 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |