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장비 및 시설 기본정보

입도분석 / 제타전위 측정기

장비 개요

기관명, 장비번호, 제작사, 모델명, 장비사양, 취득일자, 취득금액 순으로 구성된 표입니다.
기관명 ZEUS
장비번호
제작사 Malvern Instruments
모델명 Zetasizer Nano ZS90
장비사양
취득일자 2012-09-09
취득금액

보유기관 및 이용정보

보유기관명, 보유기관코드, 활용범위, 활용상태, 표준코드, 표준분류명, 시설장비 설명, 장비이미지코드, 장비위치주소, NFEC 등록번호, 예약방법, 카타로그 URL, 메뉴얼 URL, 원문 URL, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
보유기관명 한국생산기술연구원
보유기관코드
활용범위
활용상태
표준코드 B701
표준분류명
시설장비 설명 나노입자의 합성과 이를 활용하기 위한 분산 기술개발에서 필수적인 측정 및 분석 항목이 입자의 크기(입도) 분포 표면전하 상태이다.
나노입자 입도분석 및 제타포텐셜 측정기는 이를 측정 분석하는 장비이다.
입도분석은 Dynamic laser light scattering 방식을 이용하며 나노입자의 크기와 그 분포를 측정한다.1. SOP-driven for simple consistent operation and reliable method transfer
2. Full automation with software-driven control and data management
3. M3-PALS technology available for Zeta potential measurement to improve resolution
4. Disposable cell available for Size and Zeta potential
5. Temperature range : 2 ~ 70℃
6. Adopted APD detector
7. Auto alignment optics system
B. Specification
1. Measurement Method
- Using the theory of Dynamic light scattering (=Photon correlation spectroscopy) based on
ISO13321
- Combination of laser Doppler velocimetry and phase analysis light scattering (PALS) in
M3-PALS technique to improve resolution for Zeta potential measurement
2. Optic
- Laser: 4mW 632.8nm He-Ne gas laser
- Detector: Avalanche Photodiode Detector
- Size measurement: 90 degree
-Zeta measurement: Laser Doppler method 17 degree or more
- Debye Plot for MW measurement
- Automatic attenuation selection
- Attenuation level: 1-11 level
3. Measurement range
- Size (diameter): 0.3 – 3000nm
- Zeta Potential: +/-200mV
- Size range for Zeta Potential : 3.8nm to 100 microns or more
- Concentration range for size measurement: 0.1ppm and up to 10%w/v or more
- Conductivity range: 0 to 200mS/cm or more
- Mobility range: Minimum zero no effective limitation or more
- Minimum Sample volume for Size measurement: 20ul or more
- Minimum Sample volume for Zeta Potential measurement: 150ul or more
- Molecular weight range with Debye plot (Abs): 9800 to 2x10^7 Da or more
- Temperature range: 2 - 70 degree or more (120 degree optional)나노입자의 크기 및 분포 측정
입자의 표면 전하상태 측정
입도분석 결과를 보면 목표로 한 나노입자 크기가 만들어졌는지 또 크기 분포가 고른지를 판단할 수 있어 합성 기술개발에 필수적이다.
제타포텐셜은 대전된 콜로이드 입자의 전기이중층(electrical double layer)에 생긴 전위차를 말하며 이 전위차가 클수록 입자간 반반력이 커져 분산 안정성이 높다.
그러므로 합성한 나노입자를 잘 분산하여 콜로이드 용액을 개발하는데 활용한다.
장비이미지코드 http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201210/.thumb/20121008145458.jpg
장비위치주소 인천 연수구 송도동 7-47 한국생산기술연구원 PP3동
NFEC 등록번호 NFEC-2012-10-171583
예약방법
카타로그 URL
메뉴얼 URL
원문 URL http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0035326
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, 주제어 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
주제어 (키워드)