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장비 및 시설 기본정보
라이프타임 측정기
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Semilab |
| 모델명 | WT-2000PVN |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2013-12-06 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 구미전자정보기술원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | C707 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | u-PCD방식을 이용해 Sample의 minority carrier lifetime 측정할 수 있는 장비임. Lifetime 측정은 Block/wafer와 Thinfilm을 측정 할 수 있는 각각의 모듈로 구성됨1. u-PCD for Si Block/Wafer - Measured property: minority carrier lifetime - Suitable material to measure: blocks as-cut wafers lapped wafers diffused wafers coated wafers finished cells mono- multicrystalline and EFG material. - Laser spot diameter: 1 mm. - Measurement range: 0.01 μs ~ 30000 μs or wider - Resistivity range of the measured sample:0.1 ~ 1000 Ohmcm or wider - Repeatability: <3% - Measurement time: 10 ~ 300 ms/datapoint 2. Thinfilm lifetime measurement - It should be able to gets information about excited carrier density and carrier mobility for thinfilm lifetime measurement - It should be able to measure short lifetime (blow 5ns lifetime value)1. 기존의 sample과 박막증착 및 표면처리 실험 후 제작된 sample의 Carrier lifetime 변화를 비교측정하고자 할 때 사용. 2. 환경적 변화에 따른 Carrier lifetime 변화를 측정하고자 할때 사용. |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201404/.thumb/2014042295139297.jpg |
| 장비위치주소 | 경북 구미시 산동면 봉산리 첨단기업 1로 17 구미전자정보기술원 대경권태양광테스트베드센터 1층 104 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2014-04-186891 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0043251 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |