엑스선형광분석장비
기관명 | ZEUS |
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장비번호 | |
제작사 | 아이에스피 |
모델명 | IEDX-150M |
장비사양 | |
취득일자 | 2012-11-14 |
취득금액 |
보유기관명 | 한국원자력통제기술원 |
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보유기관코드 | |
활용범위 | |
활용상태 | |
표준코드 | B522 |
표준분류명 | |
시설장비 설명 | 우라늄 및 플푸토늄의 특성 x선의 에너지 분포는 13∼19 keV 이므로 여기 에너지가 20 keV인 은을 타겟으로 사용 DCC(Double Curved Crystal)를 이용하여 단색광(Monochromatic)으로부터 여기된 에너지를 생성 실리콘 계열의 분해능이 높은 엑스선 검출기를 이용하여 공존하는 원소의 간섭이나 특성 x선의 상호 겹침(Overlap)을 효과적으로 극복 스와이프 시료가 비닐로 밀폐되어 있기 때문에 비닐에서 발생하는 콤프턴 산란(Compton Scattering)을 최소화 하기 위한 구조로서 검출기를 시료 하단에 위치 대상 시료내 측정대상물질의 분포를 분석하고자 고정장치를 3차원으로 이동할 수 있도록 설치스와이프 시료 내의 핵물질의 존재 여부 및 포함 정도를 분석 |
장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201211/.thumb/20121129091348.jpg |
장비위치주소 | 대전 유성구 화암동 58-3 한국원자력통제기술원 본관 지하1층 실험실 |
NFEC 등록번호 | NFEC-2012-11-172878 |
예약방법 | |
카타로그 URL | |
메뉴얼 URL | |
원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0035991 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
주제어 (키워드) |