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장비 및 시설 기본정보
Parameter Analyzer
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Agilent Technologies |
| 모델명 | Agilent 4156C |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2003-12-17 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한국전자통신연구원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 특징 반도체 Wafer의 전류 전압 특성 평가에 활용되는 장비 광소자 및 RF소자의 Wafer chip의 PC특성 평가장비구성및성능 Resolution: 1fA/2㎶ Accuracy: 20fA/200㎶ Pulse Width: 500㎲ ~ 100㎳ 4 Medium Power SMUs PGU Pulse Width: 1㎶/㎲활용분야 Wafer Chip의 PC 특성 측정 |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201101/.thumb/20110121141245.JPG |
| 장비위치주소 | 대전광역시 유성구 가정로 138 8동 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2004-03-044330 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0006890 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |