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장비 및 시설 기본정보
전위차계
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Otsuka Electronics |
| 모델명 | ELS-8000 |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 1998-04-20 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한국세라믹기술원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | B701 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 전기영동광산란법(레이져 도플러법 Electrophoretic Light Scattering)의 원리 로 분산상태에 있는 콜로이드 입자 및 고체 표면의제타전위를 측정 또한 동적광산란법 (Dynamic Light Scattering)의 원리로 분산 상태의 입자 크기 및 분포도를 측정 나노미터 단위의 작은 입자의 크기 및 분포를 알 수 있다. 제타 전위는 분산계의 분산 응집 안정성 입자 기능성의 제어 지표가 된다레이저 검출기 셀 등 Particle Size : 3㎚ ~ 5㎛ Zeta Potential : -100mV ~ 100mV mobility : -10 x 10-4cm2/sV pH range : 2~12계면화학 무기물 반도체 고분자 생물 약학 의학분야 등에서 미립자 뿐만아니라 필름이나 평판시료의 표면과학을 취급하는 기초연구 응용연구에 응용된다. ① 의약품 식품공업 분야 (에멀전 단백질 리포좀 베시클 계면활성제) ② 고분자 화학공업 분야 (라텍스 표면개질 도료흡착제 전해질고분자 종이 펄 프 제지) ③ 세라믹 식재료공업분야 (세라믹 무기졸의 표면 안료) ④ 반도체 분야 (실리콘웨이퍼 표면 연마제나 첨가제와 상호작용) |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201308/.thumb/20130808135724604.png |
| 장비위치주소 | 서울 금천구 가산동 233-5번지 한국세라믹기술원 본관동 3층 318 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2010-12-124478 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0019732 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |