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장비 및 시설 기본정보
L-I-V 검사시스템
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Keithely |
| 모델명 | LIV-4-F |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2004-01-28 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한국광기술원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | - 2510-AT 50W TEC Controller combined with DC measurement functions Fully digital P-I-D control Autotuning capability for the thermal control loop Designed to control temperature during laser diode module testing Maintains constant temperature current voltage and sensor resistance AC Ohms measurement function verifies integrity of TEC Measures and displays TEC parameters during the control cycle 4-wire open/short lead detection for thermal feedback element IEEE-488 and RS-232 interfaces Compact half-rack design - 2440 Five instruments in one (IV Source IVR Measure) Six models: 20 - 100W DC 1000W pulsed 1100V to 1?V 10A to 10pA Source and sink (4-quadrant) operation 0.012% basic measure accuracy with 5?-digit resolution 1700 readings/second at 4? digits via GPIB Available high speed sense lead contact check function - 2500 Measurement Specifications TEMPERATURE ACCURACY1 2 COEFFICIENT DC INPUT MAXIMUM 23?C ?5?C 0?_18?C & 28??_50?C IMPEDANCE3 RANGE RESOLUTION ?(% rdg. + offset) ?(%rdg. + offset)/?C (Maximum) 2.000000 nA 1 fA 1.00% + 2 pA 0.01 + 200 fA 20 k? 20.00000 nA 10 fA 0.40% + 2 pA 0.01 + 200 fA 20 k? 200.0000 nA 100 fA 0.30% + 200 pA 0.02 + 20 pA 200 ? 2.000000 ?A 1 pA 0.20% + 200 pA 0.02 + 20 pA 200 ? 20.00000 ?A 10 pA 0.10% + 20 nA 0.01 + 2 nA 2.0 ? 200.0000 ?A 100 pA 0.10% + 20 nA 0.01 + 2 nA 2.0 ? 2.000000 mA 1 nA 0.10% + 2 ?A 0.02 + 200 nA 0.2 ? 20.00000 mA 10 nA 0.10% + 2 ?A 0.02 + 200 nA 0.2 ?- 5 A Source Meter 2440 0957970 - Dual Photodiode Meter 2500 0920446 - Autotuning TEC Source Meter 2510-AT 0944137 - Autotuning TEC Source Meter 2510-AT 0945847 -Programmable LIV test system for Laser diode modules -Sweep and measure 400 points in < 8 s -Very low noise current source (50 A) for laser diode drive -Up to 5 A laser diode drive current -Measures optical power directlylaser diode의 LIV 성능측정 Photodiode의 IV 성능측정 darkcurrent 측정 Photocurrent(Quantum efficiency) 측정 breakdown voltage 성능측정 |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201310/.thumb/20131003132429363.jpg |
| 장비위치주소 | 광주 북구 월출동 971-35 한국광기술원 실험동 2층 2201 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2010-12-117345 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0018916 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |