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장비 및 시설 기본정보
전계방사 주사전자현미경
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Jeol |
| 모델명 | JSM-6701F |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2008-06-23 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | (주)석경에이티 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A206 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 특징 시료표면의 정보를 얻을 수 있고 시료 크기 및 준비에 크게 제약을 받지 않음 마이크로 구조의 고해상도 고품질의 이미지에 대한 차가운 음극의 전계 방출 총 초고 진공 그리고 정교한 디지털 기술을 통합하는 (FESEM)을 전자 현미경 검사 전계 방출.원뿔 FE에 총과 렌즈에 고해상도의 영상뿐만 아니라 고품질의 JSM - 6701F는 직경 8 인치로 샘플을 처리할 수 있습니다. (20~30만배 확대)구성및성능 *LABe™* - Low angle backscatter imaging Eliminates charging effects Allows for low kV backscattered electron imaging Provides more surface detail & compositional contrast *Image Automation - allows 4 different signals to be simultaneously viewed with 16 bit imaging *r-Filter - allows variable energy filtering of secondary electrons and backscattered electrons *GB mode - provides extreme images at very low accelerating voltage *Automatic specimen exchange (option) *Retractable in-lens BEI detector *5 axis motor stage control with specimen movement protection사용예 금속 세라믹 유기물의 분말 및 표면 확인 |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201101/.thumb/20110126174810.jpg |
| 장비위치주소 | 경기도 안산시 단원구 목내동 404-1 석경에이티 분석실 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2009-10-076389 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0014651 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |